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DFT基础

DFT基础

该帖转于EDAIC,感谢JANE的分享 4.1 测试在半导体产品实现过程中的意义 4.2 可测性设计 4.3 常用的可测性设计技术 扫描综合――Test Compiler的使用 4.4   故障模型及相应制造测试技术 4.5 测试模式生成——ATPG ATPG――TetraMAX的使用
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With your idea, Carry out together.

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谢谢楼主!!!

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版主人真好!

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谢谢楼主 麻烦问一下:用synopsys的TEtraMAX只能是用DFTcompiler导出的文件吗?还是综合后的db文件就直接可以用ATPG工具?

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谢谢楼主,先下资料

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5life, 又是你,谢谢!

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5life真好 [s:1]
思考才是王道

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不错,谢谢

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俺也谢谢版主了。

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不管怎么样先下了再说,谢谢了搂主!

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多谢版主了啊!

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Thanks a lot

Thanks a lot

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thank you very much !~~

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谢谢楼主啊~( f# u- [2 C& U( F8 @

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